講述溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)的失效原因

來(lái)源：林頻儀器 時(shí)間：2018-01-15 11:05

溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)有兩個(gè)獨(dú)立溫度箱，其中試驗(yàn)機(jī)測(cè)試樣品，是通過(guò)氣動(dòng)提藍(lán)在各個(gè)溫度箱內(nèi)傳送，從而達(dá)到最快的溫變速率，或通過(guò)氣缸控制高低溫區(qū)的箱門(mén)達(dá)到溫度沖擊試驗(yàn)過(guò)程。
 

1、在硅片上集成有大量電子元件的集成電路芯片及其元件通過(guò)導(dǎo)線連接起來(lái)構(gòu)成電路。由于鋁和鋁合金價(jià)格便宜，其加工工藝簡(jiǎn)單因此通常被使用為集成電路的金屬線。

2、從進(jìn)行集成電路塑封工序開(kāi)始，水氣會(huì)通過(guò)環(huán)氧樹(shù)脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線產(chǎn)生腐蝕現(xiàn)象，由此成為品質(zhì)工程最為頭痛的問(wèn)題之一。雖然人們通過(guò)各種改善包括采用不同環(huán)氧樹(shù)脂材料、改進(jìn)塑封技術(shù)和提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行了各種努力，但是隨著半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展，塑封鋁金屬導(dǎo)線腐蝕問(wèn)題仍然是電子行業(yè)非常重要的技術(shù)課題。